NEXCOPE NX800

ENDÜSTRİYEL MUAYENE MİKROSKOBU

NX800 ,  8 inç Platform Wafer , Mikroelektronik ve Yarı İletken İçin Muayene Mikroskobu

• NIS45 sonsuza düzeltmeli optik sistemini kullanarak, uzun çalışma mesafesi, güçlü renk sapma düzeltme yeteneği ve keskin görüntüleme gibi mükemmel optik niteliklere sahiptir.
• Modüler bir tasarımı benimseyerek, parlak alan, karanlık alan, DIC, floresans ve polarizasyon gibi gözlem yöntemlerini kullanabilir. Yarı iletken cihazların, FPD’nin, elektronik cihazların, malzemelerin, hassas kalıpların kalite kontrolü ve araştırması için ideal bir mikroskoptur.

NIS45 OBJEKTİF SERİSİ

Çok katmanlı kaplama teknolojisi kullanılarak küresel sapma ve renk sapmaları ultraviyoleden yakın kızılötesine kadar düzeltilebilir. Görüntü netliği ve renk üretimi sağlar. Her büyütmede yüksek çözünürlüklü ve düz görüntüler elde edin. Aynı zamanda ultra uzun çalışma mesafesi tasarımı, endüstriyel testlerde düzensiz numunelerdeki uyarlanabilirlik sorununu mükemmel şekilde çözer.

KOHLER AYDINLATMA

Eksiksiz bir mikroskop aydınlatma sistemi – Kohler aydınlatması parlak, düzgün bir görüş alanı sağlar. Sonsuz optik sistem NIS45 ve yüksek sayısal açıklığa ve uzun çalışma mesafesine sahip objektifler, mükemmel mikroskobik görüntüleme sağlar.

ERGONOMİK TRİNOKÜLER BAŞLIK

Opsiyonel olarak sunulan ergonomik gözlem başlığı ile daha rahat bir pozisyonda çalıştırabilirsiniz. Uzun süre çalışmanın neden olduğu kas gerginliğini ve rahatsızlığı en aza indirir.

ERGONOMİK TABLA VE FOCUS KONTROLU

Odaklama ve tabla X-Y ayar mekanizması, ergonomiye uygun ve üstün konfor sağlayan alçak el tasarımını benimser.

GENİŞ ÇALIŞMA TABLASI

NX800  8 inç  platformlarla donatılmıştır ve aralarından seçim yapabileceğiniz çok çeşitli sahne eklentileri mevcuttur. Bu eklentiler, 200 mm ve altı wafer’lar ve daha büyük FPD numuneleri için uygundur. Ayarlanabilir tabla kolu ve dahili kavramalı hareketli tabla kolu, numunelerin hızlı bir şekilde konumlandırılmasını kolaylaştırır.

ANTI-STATİK KORUYUCU PLAKA

Küçük bir toz bile ürün kalitesini ve test sonuçlarını etkileyebileceğinden, endüstriyel numuneler yüzen tozdan uzak tutulmalıdır. NX800, numuneleri aşındırıcı toz ve serpintilerden mümkün olduğunca korumak ve test sonuçlarını daha doğru hale getirmek için çok çeşitli anti-statik koruyucu kapaklarla birlikte gelir.

DAHA UZUN ÇALIŞMA MESAFESİ                          

DAHA UZUN DİYAFRAM AÇIKLIĞI

Her türlü elektronik bileşen, yarı iletken ve devre kartı numuneleri önemli yükseklik farklılıklarına neden olur. Bu nedenle bu mikroskop, uzun çalışma mesafesine sahip özel bir objektif lensi benimser. Bu arada, endüstriyel numunelerin renk üretimine yönelik yüksek gereksinimleri karşılamak için, yıllar içinde çok katmanlı kaplama teknolojisi geliştirilmiş ve iyileştirilmiştir , numunenin gerçek rengini geri yükleyebilen yüksek açıklık oranına sahip apokromatik objektif lensler kullanılır.

ORJİNALİNE EN YAKIN GERÇEK RENKLER

NX800, Opsiyonel LED ışık kaynağıyla sunulmaktadır. LED aydınlatma, sabit bir renk sıcaklığı ve gerçek renkli görüntüleme sağlar. LED’in uzun ömrü, düşük güç tüketimi ve kolay bakımı, onu ideal bir mikroskop ışık kaynağı haline getirir.

HAFIZALI PARLAKLIK KONTROLU

Her bir merceğin aydınlatma ve parlaklık değerlerini hafızasında tutabilir. Objektif mercekleri değiştirildiğinde ışık yoğunluğu otomatik olarak ayarlanır, böylece görsel yorgunluk azalır ve farklı çalışma alanları genişletilir.

FARKLI TEST GEREKSİNİMLERİ İÇİN ÇEŞİTLİ GÖZLEM YÖNTEMLERİ

NX800 bilimsel sınıf mikroskop, aydınlık alan, karanlık alan, faz kontrastı, floresans, polarizasyon ve DIC’nin modüler kombinasyonları aracılığıyla çeşitli gözlem yöntemlerini kullanır.

AYDINLIK  ALAN

NIS NX800, infinity optik sistemi benimser. Alan düzgünlüğü, parlaklık ve renk doğrulama derecesi yüksektir. Yarı iletkenler, opak numuneler gibi gözlemler için uygundur.

KARANLIK ALAN 

Karanlık alan gözlemi yapılabilir, küçük çizikler gibi kusurlar bile oldukça hassas bir testle tespit edilebilir. Numunenin yüzeyinin yüksek çözünürlük gereksinimleri göz önünde bulundurularak görüntülenir.

ALT AYDINLIK ALAN 

FPD gibi şeffaf numuneler için, optik bileşenler vb., ışık yansıtıcı yoğunlaştırıcı alan gözlemi ile elde edilebilir. Aynı zamanda DIC ile polarizasyon ve diğer aksesuarların kullanımı da kolaydır.

POLARİZASYON

Gözlem yöntemi, mikro yapı, mineral, LCD ve yarı iletken malzemeler gibi çift kırılma özelliğine sahip numuneler için uygundur.

DROP SHOT DIC

Hassas kalıplardaki küçük farklılıkların gözlemi için kullanılır. Bu gözlem tekniği, küçük yükseklik farklarını görmek, rölyefli ve 3 boyutlu görüntü almak için kullanılabilir.

PANAROMİK RESİM BİRLEŞTİRME

küçük görüntüleri hızlı bir şekilde birleştirerek büyük, yüksek çözünürlüklü görüntüler oluşturabilir.

GERÇEK ZAMANLI/STATİK ÖLÇÜMLER

Genel gözlem ve kalite kontrol, mesafe, açı, dikdörtgen, daire ve elips gibi etkileşimli ölçüm işlevlerini gerektirir.

GERÇEK ZAMANLI HDR GÖRÜNTÜ

Çeşitli numunelerin incelenmesi sırasında yüzeylerde yüksek kontrastlı detaylar ortaya çıkabilir. HDR teknolojisi, çekimler arasında mükemmel pozlama dengesi sağlayarak tüm ayrıntıların net ve eksiksiz şekilde görünmesini garanti eder.

DERİNLİK FÜZYONU / 3D RAPORLAMA

Derinlik füzyon özelliği, farklı odak katmanlarını kusursuzca birleştirerek, üstten bakışta son derece net ve keskin bir görüntü elde etmenizi sağlar.