NEXCOPE NM900

ENDÜSTRİYEL ARAŞTIRMA MİKROSKOBU

NEXCOPE NM900,  Sınırsız Mikroskopi için Tasarlanmıştır.

NM900 Serisi, çeşitli endüstriyel ve malzeme bilimi uygulamalarını karşılayacak şekilde modüler  tasarlanmıştır.
Bu, kullanıcılara kendi özel ihtiyaçlarına uygun bir sistem oluşturma esnekliği sağlar.

Mekanik yapı, ergonomik tasarım, makul düzen ve rahat kullanım ile sağlam ve kompakttır. Kullanıcı mikroskobu doğal bir duruşta çalıştırabilir.

NIS sonsuza düzeltmeli optik sistemi benimseyen bu cihaz, uzun çalışma mesafesi, yüksek renk üretimi ve doğru görüntüleme gibi mükemmel optik niteliklere sahiptir, yüksek kontrastlı, net ve parlak görüntüler sağlar.

Aydınlık alan, karanlık alan, DIC, floresans, polarizasyon vb. gözlem yöntemlerini gerçekleştirmek için modüler tasarımı benimser. Yarı iletken cihazların, FPD’nin, elektronik cihazların, malzemelerin ve hassas kalıp imalatının kalite kontrolü ve araştırması için ideal bir araçtır.

SEZGİSEL MİKROSKOP KONTROLÜ

HEPSİ BİR ARADA KONTROL PANELİ

Belirli düğmeler belirli objektifler için ayarlandıktan sonra büyütmeyi tek bir dokunuşla kolayca değiştirebilirsiniz.

MOTORİZE OBJEKTİF TARETİ

Motorize taret her objektif için ışık şiddetini hafısasında tutar , istenilen 2 objektif sağ tarafta bulunan butonlara atanabilir ve 2 objektif arasında geçiş gözleri okülerden kaldırmadan rahatlıkla yapılabilir.

ECO MOD

Kullanıcı mikroskoptan ayrıldıktan 30 dakika sonra mikroskop, ışık kaynağını otomatik olarak kapatır.
Enerji tasarrufu sağlayan bu sistem ışık kaynaklarının ömrünü korur.

ERGONOMİK TRİNOKÜLER BAŞLIK

Yoğun mikroskop kullanımlarında boyun ve sırt ağrısı sorunlarını ortadan kaldırır.

NIS SERİSİ OBJEKTİF LENS

Renk doğruluğu, doğru ve etkili denetim için kritik öneme sahiptir. NIS45 serisinin objektifleri özenle seçilmiş yüksek geçirgenliğe sahip cam ve gelişmiş kaplama teknolojisini kullanarak doğal renkleri doğru bir şekilde yeniden üretir. Ek olarak, lens silindiri de dahil olmak üzere tüm optik sistem, doğal renkleri yeniden üretecek şekilde tasarlanmıştır; bu da özellikle dijital görüntüleme için örnek renklere sadık kalan keskin görüntüler sağlar.

DIC KONTRAST SİSTEMİ

Yeni geliştirilen DICR diferansiyel girişim bileşeni , parlak alan gözleminde tespit edilemeyen ince yükseklik farklılıklarını yüksek kontrasta dönüştürebilir ve bunları LCD iletkeni gibi üç boyutlu bir kabartma şeklinde görüntüleyebilir.

KARANLIK SAHA GÖZLEMİ

Karanlık alan, kullanıcının numuneden saçılan ve kırılan ışığı gözlemlemesine olanak tanır. Kaynaktan gelen ışık dairesel bir optik aydınlatma cihazından geçer ve ardından numune üzerine odaklanır. Yalnızca Z eksenindeki yansımayla oluşturuldukları için kullanıcılar, optik mikroskopların çözünürlük sınırının ötesinde, 8 nm kadar küçük çizikleri ve kusurları gözlemleyebilir
wafer de dahil olmak üzere pürüzsüz yüzeyli örnekleri kontrol edebilirsiniz.

ALT AYDINLATMA GÖZLEMİ

Şeffaf numuneler için bir tür iletim odaklı odaklama aynası, gerçek iletilen ışık gözlemini gerçekleştirir.
Alt aydınlatmayı kullanarak örnekleri parlak alan, karanlık alan, DIC ve polarize ışıkta görüntüleyebilir ve inceleyebilirsiniz. Hepsi tek bir kullanışlı sistemde.

POLARİZASYON GÖZLEMİ

Bu mikroskopi tekniğinde kullanılan polarizasyon, bir dizi filtre (polarizör ve analizör) tarafından üretilir ve numune özellikleri, sistemdeki yansıyan ışığın yoğunluğunu doğrudan etkiler. Metal yapıları (örn. küresel grafitli demirdeki grafit büyüme modelleri), mineralleri, LCD’leri ve yarı iletken malzemeleri gözlemleyin.

DIC DIFERANSIYEL INTERFERANS KONTRAST

DIC, yükseklik farklarını ölçen ve bunları kabartma veya artırılmış kontrastlı üç boyutlu görüntüler şeklinde sunan bir mikroskopi tekniğidir. Polarizasyon teknolojisine dayanır. İhtiyaçlarınızı karşılamak için özel olarak tasarlanmış prizmalar mevcuttur. Bu yöntem metalurji, mineraller, kafa taşlama yüzeyleri ve sabit disk yüzeyleri ve kristalize yüzeyler dahil olmak üzere çok düşük yükseklik farklarına sahip numunelerin tespiti için uygundur