ENDÜSTRİYEL MUAYENE MİKROSKOBU
NX1000, 12 inç Wafer , Mikroelektronik ve Yarı İletken İçin Muayene Mikroskobu
- NIS45 sonsuza düzeltmeli optik sistemini kullanarak, uzun çalışma mesafesi, güçlü renk sapması düzeltme yeteneği ve keskin görüntüleme gibi mükemmel optik niteliklere sahiptir.
- Endüstriyel geniş alan gözlem ihtiyaçları için özel olarak tasarlanmış olup, FPD ve LSI testlerini aynı anda karşılamak için 12 inçlik süper geniş bir tabla kullanılarak, geniş platform kolları ve objektif değişimi gibi motorize bileşenler eklenmiştir; uzun süreli mikroskobik operasyonlardan kaynaklanan yorgunluğu en aza indirir.
- Modüler bir tasarımı benimseyerek, parlak alan, karanlık alan, DIC, floresans ve polarizasyon gibi gözlem yöntemlerini kullanabilir. Yarı iletken cihazların, FPD’nin, elektronik cihazların, malzemelerin, hassas kalıpların kalite kontrolü ve araştırması için ideal bir mikroskoptur.
NIS45 OBJEKTİF SERİSİ
Çok katmanlı kaplama teknolojisi kullanılarak küresel sapma ve renk sapmaları ultraviyoleden yakın kızılötesine kadar düzeltilebilir. Görüntü netliği ve renk üretimi sağlar. Her büyütmede yüksek çözünürlüklü ve düz görüntüler elde edin. Aynı zamanda ultra uzun çalışma mesafesi tasarımı, endüstriyel testlerde düzensiz numunelerdeki uyarlanabilirlik sorununu mükemmel şekilde çözer.
KOHLER AYDINLATMA
Eksiksiz bir mikroskop aydınlatma sistemi – Kohler aydınlatması parlak, düzgün bir görüş alanı sağlar. Sonsuz optik sistem NIS45 ve yüksek sayısal açıklığa ve uzun çalışma mesafesine sahip objektifler, mükemmel mikroskobik görüntüleme sağlar.
ERGONOMİK TRİNOKÜLER BAŞLIK
Gözlem başlığının ayarlanabilir eğim açısı ile daha rahat bir pozisyonda çalıştırabilirsiniz. Uzun süre çalışmanın neden olduğu kas gerginliğini ve rahatsızlığı en aza indirir.
ERGONOMİK TABLA VE FOCUS KONTROLU
Odaklama ve tabla X-Y ayar mekanizması, ergonomiye uygun ve üstün konfor sağlayan alçak el tasarımını benimser.
MOTORİZE KONTROL
Belirli düğmeleri belirli objektif lenslerine göre ayarlayarak, büyütmeyi tek bir dokunuşla kolayca değiştirebilirsiniz. Ayrıca, her objektif lensi kullanırken aydınlatma parlaklığını hatırlayabilir ve farklı objektif lensleri arasında geçiş yaparken görsel yorgunluğu azaltmak için ışık yoğunluğunu otomatik olarak ayarlayabilir. NX1000, odaklama el çarkının dönüş hızı ve odaklama mesafesi aracılığıyla objektif taretinin odaklama hızını akıllıca ayarlayarak odaklamanın daha hızlı ve daha doğru olmasını sağlar.
KONTROL PANELİ
Kontrol paneli mikroskobun ön tarafında bulunur.
Gözlem için kullanılan kontrol mekanizması mikroskobun ön kısmında (operatörün önünde) yer alır ve numuneleri gözlemlerken mikroskobun çalıştırılmasını daha hızlı ve daha rahat hale getirir. Ayrıca uzun süreli gözlemlerden kaynaklanan yorgunluğu ve büyük hareketlerin neden olduğu asılı tozu da azaltabilir.
GENİŞ ÇALIŞMA TABLASI
Mikro elektronik ve yarı iletken örneklerin alanları genişledikçe sıradan metalografik mikroskop tablaları gözlem ihtiyaçlarını karşılayamaz hale gelir. NX1000, kullanışlı ve taşınması kolay, geniş hareket aralığına sahip geniş bir tablaya sahiptir. Bu, onu geniş alanlı endüstriyel numunelerin mikroskobik gözlemi için ideal bir araç haline getirir.
ANTI-STATİK KORUYUCU PLAKA
Küçük bir toz bile ürün kalitesini ve test sonuçlarını etkileyebileceğinden, endüstriyel numuneler yüzen tozdan uzak tutulmalıdır. NX1000, numuneleri aşındırıcı toz ve serpintilerden mümkün olduğunca korumak ve test sonuçlarını daha doğru hale getirmek için çok çeşitli anti-statik koruyucu kapaklarla birlikte gelir.
DAHA UZUN ÇALIŞMA MESAFESİ
DAHA UZUN DİYAFRAM AÇIKLIĞI
Her türlü elektronik bileşen, yarı iletken ve devre kartı numuneleri önemli yükseklik farklılıklarına neden olur. Bu nedenle bu mikroskop, uzun çalışma mesafesine sahip özel bir objektif lensi benimser. Bu arada, endüstriyel numunelerin renk üretimine yönelik yüksek gereksinimleri karşılamak için, yıllar içinde çok katmanlı kaplama teknolojisi geliştirilmiş ve iyileştirilmiştir , numunenin gerçek rengini geri yükleyebilen yüksek açıklık oranına sahip apokromatik objektif lensler kullanılır.
FARKLI TEST GEREKSİNİMLERİ İÇİN ÇEŞİTLİ GÖZLEM YÖNTEMLERİ
NX1000 bilimsel sınıf mikroskop, aydınlık alan, karanlık alan, faz kontrastı, floresans, polarizasyon ve DIC’nin modüler kombinasyonları aracılığıyla çeşitli gözlem yöntemlerini kullanır.
PANAROMİK RESİM BİRLEŞTİRME
küçük görüntüleri hızlı bir şekilde birleştirerek büyük, yüksek çözünürlüklü görüntüler oluşturabilir.
GERÇEK ZAMANLI/STATİK ÖLÇÜMLER
Genel gözlem ve kalite kontrol, mesafe, açı, dikdörtgen, daire ve elips gibi etkileşimli ölçüm işlevlerini gerektirir.
GERÇEK ZAMANLI HDR GÖRÜNTÜ
Çeşitli numunelerin incelenmesi sırasında yüzeylerde yüksek kontrastlı detaylar ortaya çıkabilir. HDR teknolojisi, çekimler arasında mükemmel pozlama dengesi sağlayarak tüm ayrıntıların net ve eksiksiz şekilde görünmesini garanti eder.
DERİNLİK FÜZYONU / 3D RAPORLAMA
Derinlik füzyon özelliği, farklı odak katmanlarını kusursuzca birleştirerek, üstten bakışta son derece net ve keskin bir görüntü elde etmenizi sağlar.
