NEXCOPE NX2000

ENDÜSTRİYEL MUAYENE MİKROSKOBU

Mikro elektronik ve Yarı İletkenler için NX2000 12inç Motorize Wafer İnceleme Mikroskobu

  • Ekstra geniş yükleme platformu ve geniş hareket aralığı, kolay hareket ve odaklanma, örnek aralığı hızlı bir şekilde algılanır. Geniş alanlı endüstriyel numunelerin mikroskobik gözlemi için ideal bir araçtır.
  • İster çok küçük bir sensör, ister büyük bir plaka, hatta bütün bir LCD ekran olsun, gözlem yapmak için NEXCOPE NX2000 endüstriyel inceleme mikroskobunu kullanabilirsiniz.
  • Hassas elektrikli bileşenler, örneklerinin korumasını en üst düzeye çıkarmak için örnek ve objektif koruma mekanizmasına sahiptir.

ENTEGRE KONTROL PANELİ

NX2000 mikroskop kontrol bileşenleri yenilikçi bir entegre tasarımı benimser. Motorlu kaba/ince odak ayarı, motorlu objektif taret, alt ve üst ışık parlaklığı ayar düğmesi ve diğer kontrol bileşenleri mikroskobun ön kısmına monte edilmiştir. Mükemmel yapısı  ile benzersiz çalışma kolaylığı sağlamak için elektronik kontrolün rahatlığını artırır.

GENİŞ İNCELEME ALANI

NX2000, LCD panel endüstrisinin çeşitli alanlarının test gereksinimlerini karşılamak için 200 mm’lik büyük Z ekseni hareket kabiliyetini benimser ve çeşitli boyutlara mükemmel şekilde uyarlanabilen büyük 14″x12″ endüstriyel platformla eşleştirilir. Test örnekleri, mikro elektronik ve yarı iletken numuneler genellikle geniş alana sahiptir ve sıradan metalurjik Mikroskop platformları gözlem ihtiyaçlarını karşılayamaz. NX2000, geniş yükleme platformuna ve geniş hareket aralığına sahip olup,  rahat ve hızlıdır. Büyük Numunelerin mikroskobik gözlemi için idealdir.

NIS45 LENS SERİSİ

Çok katmanlı kaplama teknolojisi kullanılarak küresel sapma ve renk sapmaları ultraviyoleden yakın kızılötesine kadar düzeltilebilir. Görüntü netliği ve renk üretimi sağlar. Her büyütmede yüksek çözünürlüklü ve net görüntüler elde edin. Aynı zamanda ultra uzun çalışma mesafesi tasarımı, endüstriyel testlerde düzensiz numunelerin uyarlanabilirlik sorununu mükemmel bir şekilde çözer.

KOHLER AYDINLATMA

Eksiksiz bir mikroskop aydınlatma sistemi – Kohler aydınlatması parlak, düzgün bir görüş alanı sağlar. Sonsuza düzeltmeli optik sistem NIS45 ve yüksek sayısal açıklık ve uzun çalışma mesafeli objectifler, mükemmel mikroskobik görüntüleme sağlar.

ERGONOMİK ÜÇLÜ BAŞLIK

Ayarlanabilir eğim açısı ile gözlem başlığını daha rahat bir pozisyonda çalıştırabilirsiniz. Uzun süreli çalışmanın neden olduğu kas gerginliğini ve rahatsızlığı en aza indirir.

ERGONOMİK MASA VE ODAK KONTROLÜ

Odaklama mekanizması ve tabla X-Y ayar mekanizması, ergonomiye uygun ve üstün konfor sağlayan alçak el tasarımını sahiptir.

FARKLI TEST GEREKSİNİMLERİ İÇİN ÇEŞİTLİ GÖZLEM YÖNTEMLERİ

NX2000 araştırma tipi bir  mikroskopdur, aydınlık alan, karanlık alan, faz kontrast, floresans, polarizasyon ve DIC’nin modüler kombinasyonları aracılığıyla çeşitli gözlem yöntemlerini gerçekleştirebilir.

AYDINLIK  ALAN

NIS NX2000, kablosuz optik sistemi benimser. Alan düzgünlüğü, parlaklık ve renk doğrulama derecesi yüksektir. Yarı iletkenler, opak numuneler gibi gözlemler için uygundur.

KARANLIK ALAN 

Karanlık alan gözlemi yapılabilir, küçük çizikler gibi kusurlar bile oldukça hassas bir testle tespit edilebilir. Numunenin yüzeyinin yüksek çözünürlük gereksinimleri göz önünde bulundurularak görüntülenir.

ALT AYDINLIK ALAN 

FPD gibi şeffaf numuneler için, optik bileşenler vb., ışık yansıtıcı yoğunlaştırıcı alan gözlemi ile elde edilebilir. Aynı zamanda DIC ile polarizasyon ve diğer aksesuarların kullanımı da kolaydır.

POLARİZASYON

Gözlem yöntemi, mikro yapı, mineral, LCD ve yarı iletken malzemeler gibi çift kırılma özelliğine sahip numuneler için uygundur.

DROP SHOT DIC

Hassas kalıplardaki küçük farklılıkların gözlemi için kullanılır. Bu gözlem tekniği, küçük yükseklik farklarını görmek, rölyefli ve 3 boyutlu görüntü almak için kullanılabilir.

MOZAİK GÖRÜNTÜ

Gerçek zamanlı görüntü alımı veya görüntülerin içe aktarılması yoluyla, kenarlar hızlı bir şekilde hizalanıp birleştirilerek büyük boyutlu ve yüksek çözünürlüklü bir görüntü oluşturulabilir.

GERÇEK ZAMANLI STATİK ÖLÇÜM

Tipik gözlem ve kalite kontrol, mesafe, açı, dikdörtgensel dairesel ve eliptik gibi etkileşimli ölçüm fonksiyonlarına ihtiyaç duyar.

YÜKSEK ÇÖZÜNÜRLÜKLÜ VE GERÇEK ZAMANLI HDR GÖRÜNTÜ/VİDEO 

Çeşitli numunelerin incelenmesi sırasında yüzeylerde yüksek kontrastlı detaylar ortaya çıkabilir. HDR teknolojisi, çekimler arasında mükemmel pozlama dengesi sağlayarak tüm ayrıntıların net ve eksiksiz şekilde görünmesini garanti eder.

ALAN DERİNLİĞİ FÜZYONU

Derinlik füzyon özelliği, farklı odak katmanlarını kusursuzca birleştirerek, üstten bakışta son derece net ve keskin bir görüntü elde etmenizi sağlar.